阻抗分析儀IM3570 ?1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查 ?LCR模式下Z快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量 ?基本精度±0.08%的高精度測量 ?適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量

日置LCR測試儀 ?測量頻率DC，4Hz~8MHz ?測量時間：Z快1ms ?基本精度：±0.05% rdg ?1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量 ?可內部發生DC偏壓測量 從研發到生產線活躍在各種領域中

日置LCR測試儀?基本精度±0.05％，測量范圍廣泛（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。?在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，不間斷測試，速度比以往產品快10倍。?內置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應或鋁電解電容的等效串聯電阻。（測量速度是以往產品3522-50的10倍，大大提高了反復性和穩定性）

日置LCR測試儀 ?基本精度±0.05％，測量范圍廣泛（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）。 ?在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，不間斷測試，速度比以往產品快10倍。 ?內置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應或鋁電解電容的等效串聯電阻。 （測量速度是以往產品3522-50的10倍，大大提高了反復性和穩定性）

LCR測試儀 ?基本精度±0.05％，測量范圍廣泛（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA） ?在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往產品10倍的速度不間斷測試。 ?內置比較器和BIN功能 2毫秒的快速測試時間

LCR測試儀 ?高速測量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ?高精度： ± 0.08% 內置比較器

LCR測試儀 ?模擬測量時間0.6ms（1MHz）的高速測量 ?提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度 ?1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量 根據BIN的測定區分容量